Не хотелось бы усложнять тестер микроконтроллером, так как предполагается, что его пользователями будут не только продвинутые в области импульсной техники профессионалы, но и простые сельские радиолюбители. А вот падение напряжения на открытом транзисторе мы и планируем снимать пиковым детектором. нагруженным стандартной линейкой светодиодов, элементов на десять. EvgeniS, в своём посте Вы ссылаетесь на описание такого устройства в "Хоровице" - это где, можно подробнее?
Согласен, также, что в мощном источнике тока здесь нет необходимости, что и подтвердили проведённые нами сегодня тесты.
Тестировались транзисторы HGTH30N60A4, фирмы Файрчилд, и "левый", с таким же названием, но NO Name. Внешние отличия этих транзисторов - на прикреплённом фото. Думаю, объяснять, какой из них действительно фирменный, нет необходимости. Также, испытаниям подверглись и несколько MOSFET-ов, разных наименований. На затворы транзисторов, от образцового генератора подавались импульсы размахом в 20V, с частотой 100кГц и скважностью - 50/50. На стоки, вначале через лампу 220V, 1000W, а затем через резистор в 1кОм, подавалось постоянное напряжение от сетевого выпрямителя. Исток - на земле. Пари этом, падение напряжения на фирменном транзисторе составило - 1,56V, а на "левом" - аж 3,2V, причём это напряжение мало зависило от вида нагрузки в стоке. На мосфетах, напряжение сток-исток составило от 0,05, до 0,1V.
Не согласен с высказыванием EvgeniS о том, что тест на минимально допустимое напряжение импульсов на затворе транзисторов, будет лишним. При уменьшении амплитуды импульса на затворе "левого" транзистора, он перешёл в линейный режим уже при 12 вольтах, в то время, как фирменный устойчиво работал в ключевом режиме вплоть до 7,5V.
Думаю, результаты проведённого теста, ни у кого не оставят сомнения в необходимости такого тестера.
Удивляет только одно, проблемы с силовыми элементами для инверторных преобразователей на нашем рынке, обсуждаются на подобных нашему форумах, как минимум с 2005 года, но ни разу, нигде не поднимался вопрос, подобный поднятому мною сейчас. Все вопросы, задаваемые на форумах, сводятся лишь к методике проверки целостности самих транзисторов, и ни слова о проверке их свойств.